美国LUMETRICS波前传感器
品牌介绍:
LUMETRICS总部位于纽约,自2003年以来,一直在为越来越多的客户开发和制造高精度的厚度测量和计量系统,包括制药,食品包装等行业。我们的原始产品线OptiGauge是通过获得Eastman Kodak的薄膜测量技术许可而推出的。从那以后,我们扩展了OptiGauge系列并开发了其他产品线,以满足更加多样化的行业需求。
产品范围:
美国LUMETRICS波前传感器
主要型号:
OPTIGAUGE 2000、OPTIGAUGE 600、OPTIGAUGE MLS、OPTIGAUGE EMS、LUMETRISCAN 360、CLAS-NX、CLAS-FX、CLAS-2D
相关产品介绍:
OPTIGAUGE 2000仪器基于时域低相干干涉测量法。这项技术可以对任何对光测量透明或部分透明的材料进行厚度测量。使用波长约为2微米的红外光。设计用于测量特殊和稀有材料。常规的玻璃和塑料材料也可以测量。我们的技术可实现快速的实时测量,可用于在线过程控制以及离线质量控制。
主要特点:
-测量范围:100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-单层和多层测量
-连续内部校准
-NIST可追溯性
-台式或机架安装
CLAS-2D波前传感器将干涉仪,光束轮廓仪和光束质量仪的功能整合在一台仪器中,以提供准确的波前测量和激光轮廓分析。
该系统软件是业内灵活,可以分析光学像差,包括像散,球差,聚焦误差/准直,倾斜等。此外,CLAS-2D还测量M2光束质量,MTF,近场和远场光束发散度以及其他光束参数。
主要特点:
-激光束诊断
-光学测试
-对准
-角度测量
-准直
-表面测量
CRYSTALWAVE人工晶状体像差仪是一种高度灵敏的光学仪器,专门设计用于使用10,000个小透镜的栅格来测量人工晶状体。它使您可以通过使用或不使用可选模型眼的WAVEFRONT测量来计算MTF。CRYSTALWAVE 765还包括可用于视觉检查的摄像机。与我们的CLAS-2D服务器软件兼容,您还可以使用LABVIEW,VISUAL BASIC或其他语言编写CRYSTALWAVE 765的应用程序,以直接控制生产线环境中的仪器。
主要特点:
-测量范围包括球面度数,圆柱度,轴,彗差,三叶形和其他高阶像差
-通过软件口罩测量多焦点人工晶状体
-使用绿色光源进行的测量符合ISO 11979
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大部分**物气体化学键或官能团的原子处于不断振动状态,其振动频率与红外光的振动频率相当。若红外光照射**物分子时,分子中的化学键或官能团发生振动吸收,不同的化学键或官能团吸收频率不同,在红外光谱上将处于不同位置,被形象称之为 “红外指纹区”。当出现气体泄漏时,气体会吸收大气空间中特定波长的红外线,用对应波段的红外成像检漏仪即可观测到气团在空间的分布形态。• VOCs 气体红外检漏仪,工作波段 3.